错误涵盖率

错误涵盖率（Fault coverage）也称为故障覆盖率，是指在一工程系统中，某种故障可以被侦测到的百分比。工厂的生产测试会希望有高错误涵盖率的结果，像可测试性设计（DFT）及自动测试图样产生（ATPG）等技术的目的也是为了提高错误涵盖率。

例如在电子学中，固定型故障涵盖率的侦测方式就是在硬件模型中将分别每一个针脚固定为逻辑0及逻辑1的准位，然后执行测试向量。若至少有一个输出暂存器和预期的输出不同，就算是有侦测到此故障。在概念上，模拟执行的总数会恰好是针脚数量的二倍（理想上，需要测试到每一个针脚固定为逻辑0及逻辑1的情形），不过有许多最佳化可以减少需要的计算量。而且，许多没有交互作用的故障可以同时在一次测试中一起模拟，只要侦测到故障，模拟就可以结束。

错误涵盖率的测试通过条件是所有可能故障中，至少可以侦测一定百分比的故障。若没有通过，有以下三个选择。设计者可以扩充或是提升测试向量集，也许是用更有效的ATPG工具。第二个选择是重新规划电路，提升故障侦测能力（提高可控制性及可观察性）。第三个选择是接受较低的错误涵盖率。

相关条目

• 可测试性设计
• ATPG
• 电子设计自动化
• 故障检测和隔离
• 代码覆盖率
• 测试覆盖率

外部链接

• https://web.archive.org/web/20081015200848/http://www.crhc.uiuc.edu/IGATE/hitec-software.html gate-level fault simulator PROOFS for non-profit educational institutions from the University of Illinois
• http://www.eng.auburn.edu/~strouce/ausim.html （页面存档备份，存于互联网档案馆） free, hierarchical fault simulator AUSIM from Auburn University