中子繞射技術

中子繞射技術或者『彈性的中子散射』是研究晶體學的方法（neutron diffraction; elastic neutron scattering）,是用來確定某個材料的原子結構或磁性結構。這也是彈性散射的一種，離開中子具有入射中子相同或略低的能量。這個技術與X射線繞射類似，其主要差別在於它們不同繞射性質，這兩種技術可以互為補充。中子和X射線提供互為補充的信息：X射線適合於表面分析，同步輻射產生的強X射線適合於淺的深度或薄的樣品，而穿透深度高的中子適合於塊狀樣品。

An imaging technique known as neutron diffraction, used along with molecular simulations, revealed that an ion channels voltage sensing domain (red, yellow and blue molecule at center) perturbs the two-layered cell membrane that surrounds it (yellow surfaces), causing the membrane to thin slightly.

參閱

• 繞射
• OPAL（Open Pool Australian Lightwater reactor）
• X光散射技術
• 電子繞射

外部連結

• Institute of Physics Neutron Scattering Group （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館） (accessed May 2007)
• German Committee Research with Neutrons
• Engineering instrument at ISIS